局部放电试验干扰大是这么回事？

我想说局部放电干扰可以从外部事件干扰以及内部事件干扰两个层面去讨论。

大致原因如下：

外部事件干扰 -

>表面杂质 - 会产生电晕现象

>电源本身带有局放

>现场一些电讯号被被测体接收（类似天线的工作原理）

> 检测仪器不同步（很多所谓同步仪器是采用高速MUX的处理方法，其实是假的）

> 检测仪器精度及采样率不足

> 测试线路架设不理想

内部事件干扰 -

> 变压器，电缆，发电机局放点多於一个

> 同一局放点在不同相位发生耦合现象，产生叠加

> 同一局放在电缆发生反射继而产生叠加及衰减

等等

我之前也有解释过，抗干扰有以下方法：

1. 数据采集趋向高频率

2. 加天线来收集干扰信号来抵消测试当中的干扰

3. 高级计算机计算技术

4. 超声波

5. Low pass filter 低通过滤器

6. 硬件层面提高探测装置的灵感度

不过你应该发觉这些根本无法完全将内部事件干扰消除。

所以另一种层面的考虑是分离干扰信号技术。

这个对于数据分析程序的完美性及测试装置的同步性有相当高的要求。

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